Результати пошуку - (("interference methods of thickness control") OR ("interference method of thickness control")) :: Harvester open publications of NAS Ukraine

Вибрати результат під номером 1
1

Automation of measurements of the rate of thin films chemical etching

за авторством Іваницький, В. П., Рубіш, В. М., Тарнай, А. А., Чичура, І. І., Рубіш, В. В., Далекорей, А. В., Мешко, Р. О., Рябощук, М. М., Цигика, В. В.
Опубліковано 2024

Отримати повний текст

Стаття

Додати у Вибране

Збережено в: