Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™ by Чапон, П., Костенко, О.К.

Get full text

Просвечивающая электронная микроскопия вчера и сегодня: расширяя границы познаваемого by Держипольский, А.Г., Меленевский, Д.А.

Get full text

Multi-Volume Analysis of Nucleic Acids Using the EPOCH™ Spectrophotometer System by Brescia, P., Banks, P., Voloshin, А.

Get full text

Національна ідентичність українців. Дилема культурного і соціально-політичного by Кисельов, С., Сальникова, А.

Get full text

Новое оборудование японской корпорации SHIMADZU для исследовательских лабораторий by Сухомлинов, А.Б.

Get full text

Новые предложения компании STRUERS для материаловедческих лабораторий by Верцанова, Е.В.

Get full text

Новые приборы компании AGILENT TECHNOLOGIES для научных исследований by Есауленко, А.Н., Выпирайленко, А.В., Гринченко, М.Н.

Get full text

Оборудование компании INTERTECH CORPORATION для лабораторного анализа и научных исследований by Артемьева, И.Н., Романов, С.Н.

Get full text

Компания LECO. 75 лет на мировом рынке аналитического оборудования

Get full text

Системы ELECTROPULS – электродинамические испытательные машины будущего

Get full text

Офіційна відповідь Держінформнауки на звернення Громадської ради з питань проблем інноваційної сфери...

Get full text

S4B: Science for Business Initiative (Ініціатива «Наука для бізнесу»)

Get full text

СНГ: партнерство в инновациях

Get full text

Наші автори

Get full text

Виброакустический метод свободных колебаний для неразрушающего контроля трещин by Гельман, Л.М., Горпинич, С.В.

Get full text

Удосконалення форм соціалізації і процес становлення особистості by Проскуріна, О.

Get full text

Правила для авторів

Get full text

Instructions for Authors

Get full text

Титульные страницы и содержание

Get full text

К 90-летию со дня рождения П.В. Харламова

Get full text