Ultrasonic assisted nanomanipulations with atomic force microscope за авторством Lytvyn, P.M., Olikh, O.Ya., Lytvyn, O.S., Dyachyns’ka, O.M., Prokopenko, I.V.

Отримати повний текст

Photoluminescent properties of crystalline solid solution Zn₁₋ xMgxSe:Cr²⁺, a new active material for tunable IR lasers за авторством Kovalenko, N.O., Zagoruiko, Yu.A., Fedorenko, O.O., Kuzminov, E.A.

Отримати повний текст

Li-Bi-Se semiconductor thin films: technology, structure and electrophysical properties за авторством Bilozertseva, V.I., Khlyap, H.M., Shkumbatyuk, P.S., Dyakonenko, N.L., Mamaluy, A.O., Gaman, D.O.

Отримати повний текст

Determination of surface defects by using the wavefront scanner за авторством Goloborodko, N.S., Grygoruk, V.I., Kurashov, V.N., Podanchuk, D.V., Goloborodko, A.A., Kotov, M.M.

Отримати повний текст

Optical transmittance of carbon suspensions in polymer matrixes under powerful pulsed laser irradiation за авторством Zelensky, S.E., Kopyshinsky, O.V., Garashchenko, V.V., Kolesnik, A.S., Stadnytskyi, V.M., Zelenska, K.S., Shynkarenko, Ye .V.

Отримати повний текст

Genesis of initial defects in the process of monocrystalline silicon oxidation with subsequent scribing за авторством Smyntyna, V.A., Sviridova, O.V.

Отримати повний текст

Acoustic emission and fluctuations of electroluminescence intensity in light-emitting heterostructures за авторством Veleschuk, V.P., Lyashenko, O.V., Vlasenko, Z.K., Kysselyuk, M.P.

Отримати повний текст

Method and estimation of parameters of dense part of double electrical layer at the interface electrode-solution of the dye in liquid crystal за авторством Kovalchuk, O.V.

Отримати повний текст

Polarization conversion effect in obliquely deposited SiOx films за авторством Sopinskyy, M.V., Indutnyi, I.Z., Michailovska, K.V., Shepeliavyi, P.E., Tkach, V.M.

Отримати повний текст

Нова чи оновлена концепція прав етнонаціональних меншин? за авторством Картунов, О.

Отримати повний текст

Optical properties of the Ti surface structured by femtosecond laser beam за авторством Dolgov, L., Kravchuk, R., Rybak, A., Kiisk, V., Sildos, I., Blonskyi, I.

Отримати повний текст

Optical absorption edge and luminescence in phosphorous-implanted Cu₆PS₅X (X = I, Br) single crystals за авторством Studenyak, I.P., Izai, V.Yu., Stephanovich, V.О., Panko, V.V., Kúš, P., Plecenik, A., Zahoran, M., Greguš, J., Roch, T.

Отримати повний текст

Sensors for fire gas detectors за авторством Kozubovsky, V.R., Kormosh, V.V., Alyakshev, I.P., Lishchenko, N.H.

Отримати повний текст

Optical absorption edge and luminescence in phosphorous-implanted Cu₆PS₅X (X = I, Br) single crystals за авторством Studenyak, I.P., Izai, V.Yu., Stephanovich, V.О., Panko, V.V., Kúš, P., Plecenik, A., Zahoran, M., Greguš, J., Roch, T.

Отримати повний текст

Effect of magnetic field on the reconstruction of the defect-impurity state and сathodoluminescence in Si/SiO₂ structure за авторством Steblenko, L.P., Koplak, O.V., Syvorotka, I.I., Kravchenko, V.S.

Отримати повний текст

Laser oscillation in Cr²⁺:ZnS waveguide thin-film structures under electrical pumping with impact excitation mechanism за авторством Vlasenko, N.A., Oleksenko, P.F., Mukhlyo, M.O., Lytvyn, P.M., Veligura, L.I., Denisova, Z.L.

Отримати повний текст

Changes in Hall parameters after γ-irradiation (⁶⁰Со) of n-Ge за авторством Gaidar, G.P.

Отримати повний текст

Anti-reflection coatings based on SnO₂, SiO₂, Si₃N₄ films for photodiodes operating in ultraviolet and visible spectral ranges за авторством Dobrovolskiy, Yu.G., Perevertailo, V.L., Shabashkevich, B.G.

Отримати повний текст

Diluted magnetic layered semiconductor InSe:Mn with high Curie temperature за авторством Lashkarev, G.V., Sichkovskyi, V.I., Radchenko, M.V., Aleshkevych, P., Dmitriev, O.I., Butorin, P.E., Kovalyuk, Z.D., Szymczak, R., Slawska-Waniewska, A., Nedelko, N., Yakiela, R., Balagurov, A.M., Beskrovnyy, A.I., Dobrowolsk, W.

Отримати повний текст

Size effects in p-PbTe nanostructures on polyamide за авторством Freik, D.M., Yurchyshyn, I.K., Potyak, V.Yu., Lysiuk, Yu.V.

Отримати повний текст