Харвестер відкритої науки НАН України

X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra

за авторством Bochek, G.L., Deiev, O.S., Maslov, N.I., Voloshyn, V.K.
Опубліковано в: Вопросы атомной науки и техники (2011)

Temperature dependence of the energy resolution and leakage current of the planar silicone detectors

за авторством Deiev, O.S., Maslov, N.I., Ovchinnik, V.D., Potin, S.M., Shulika, M.Y., Vasilyev, G.P., Voloshyn, V.K., Yalovenko, V.I.
Опубліковано в: Вопросы атомной науки и техники (2013)