Результати пошуку - A. B. Pikh

  • Показ 1 - 1 результатів із 1
Уточнити результати
  1. 1
    Зображення обкладинки

    Measurement of thicknesses of optically transparent layered structures by the spectral interferometry method за авторством K. A. Lukin, D. N. Tatjanko, A. B. Pikh, O. V. Zemljanyj

    Опубліковано 2017
    Отримати повний текст
    Стаття

    Додати у Вибране
    Збережено в:

Інструменти для пошуку: