Influence of high temperature annealing on the structure and the intrinsic absorption edge of thin-film silicon doped with tin

за авторством R. M. Rudenko, V. V. Voitovych, M. M. Krasko, A. G. Kolosyuk, A. M. Kraichynskyi, V. O. Yukhymchuk, V. A. Makara
Опубліковано 2013

Formation of nanocrystalline silicon in tin-doped amorphous silicon films

за авторством R. M. Rudenko, O. O. Voitsihovska, V. V. Voitovych, M. M. Krasko, A. G. Kolosyuk, Yu. Povarchuk, M. P. Rudenko, L. M. Knorozok
Опубліковано 2020

Behavior of hydrogen during crystallization of thin silicon films doped with tin

за авторством R. M. Rudenko, M. M. Krasko, V. V. Voitovych, A. G. Kolosyuk, Yu. Povarchuk, A. M. Kraichynskyi, V. O. Yukhymchuck, Ya. Bratus, M. V. Voitovych, I. A. Zaloilo
Опубліковано 2013