Харвестер відкритої науки НАН України

Influence of high temperature annealing on the structure and the intrinsic absorption edge of thin-film silicon doped with tin

von R. M. Rudenko, V. V. Voitovych, M. M. Krasko, A. G. Kolosyuk, A. M. Kraichynskyi, V. O. Yukhymchuk, V. A. Makara
Veröffentlicht 2013

Formation of nanocrystalline silicon in tin-doped amorphous silicon films

von R. M. Rudenko, O. O. Voitsihovska, V. V. Voitovych, M. M. Krasko, A. G. Kolosyuk, Yu. Povarchuk, M. P. Rudenko, L. M. Knorozok
Veröffentlicht 2020

Behavior of hydrogen during crystallization of thin silicon films doped with tin

von R. M. Rudenko, M. M. Krasko, V. V. Voitovych, A. G. Kolosyuk, Yu. Povarchuk, A. M. Kraichynskyi, V. O. Yukhymchuck, Ya. Bratus, M. V. Voitovych, I. A. Zaloilo
Veröffentlicht 2013