Результати пошуку - Andriaensen, S.
- Показ 1 - 1 результатів із 1
-
1
Characterization of charge trapping processes in fully-depleted UNIBOND SOI MOSFET subjected to γ-irradiation за авторством Houk, Y., Nazarov, A.N., Turchanikov, V.I., Lysenko, V.S., Andriaensen, S., Flandre, D.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2006)Отримати повний текст
Стаття