Результати пошуку - Ciszewski, A.
- Показ 1 - 6 результатів із 6
-
1
Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Low-Energy Electron Diffraction Investigations of GaTe Layered Crystal Cleavage Surface за авторством Galiy, P., Nenchuk, T., Ciszewski, A., Mazur, P., Zuber, S., Yarovets, I.
Опубліковано в: Металлофизика и новейшие технологии (2015)Отримати повний текст
Стаття -
2
Indium induced nanostructures on In₄Se₃(100) surface studied by scanning tunneling microscopy за авторством Galiy, P.V., Nenchuk, T.M., Ciszewski, A., Mazur, P., Zuber, S., Buzhuk, Ya.M.
Опубліковано в: Functional Materials (2013)Отримати повний текст
Стаття -
3
-
4
Исследование гетеронаносистем металл–полупроводник NixInSe (0001) за авторством Galiy, P.V., Nenchuk, T.M., Ciszewski, A., Mazur, P., Yarovets’, I.R., Dveriy, O.R.
Опубліковано в: Металлофизика и новейшие технологии (2017)Отримати повний текст
Стаття -
5
Structural Aspect of Formation of a Nanosystem of In/In₄Se₃ (100) за авторством Galiy, P.V., Mazur, P., Ciszewski, A., Nenchuk, T.M., Yarovets’, I.R., Dveriy, O.R.
Опубліковано в: Металлофизика и новейшие технологии (2018)Отримати повний текст
Стаття -
6
Investigation of (100) In₄Se₃ crystal surface nanorelief за авторством Galiy, P.V., Ciszewski, A., Dveriy, O.R., Losovyj, Ya.B., Mazur, P., Nenchuk, T.M., Zuber, S., Fiyala, Ya.M.
Опубліковано в: Functional Materials (2009)Отримати повний текст
Стаття
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
Characterization and properties
Строение и свойства наноразмерных и мезоскопических материалов
intercalate layered systems
interlayer cleavage (0001) surfaces NiхInSe
structural-phase studies
surface topography and crystallography
Дефекты кристаллической решётки
интеркалатные слоистые системы
междуслоевые поверхности скалывания (0001) NiхInSe
міжшарові поверхні сколювання (0001) NiхInSe
структурно-фазовые исследования
структурно-фазові дослідження
топография и кристаллография поверхности
топографія і кристалографія поверхні
інтеркалатні шаруваті системи