Influence of absorption level on mechanisms of Braggdiffracted x-ray beam formation in real silicon crystals за авторством Klad'ko, V. P., Grigoriev, D.O., Datsenko, L.I., Machulin, V.F., Prokopenko, I.V.

Отримати повний текст

Structural and composition irregularities in GaAs:Si/GaAs films grown by liquid-phase epitaxy за авторством Kladko, V.P., Datsenko, L.I., Maksimenko, Z.V., Lytvyn, O.S., Prokopenko, I.V., Zytkiewicz, Z.

Отримати повний текст

Investigation of superlattice structure parameters using quasi-forbidden reflections за авторством Kladko, V.P., Datsenko, L.I., Korchovyi, A.A., Machulin, V.F., Lytvyn, P.M., Shalimov, A.V., Kuchuk, A.V., Kogutyuk, P.P.

Отримати повний текст

Structure perfection variations of Si crystals grown by Czochralski or floating zone methods after implantation of oxygen or neon atoms followed by annealing за авторством Datsenko, L.I., Auleytner, J., Misiuk, A., Klad'ko, V.P., Machulin, V.F., Bak-Misiuk, J., Zymierska, D., Antonova, I.V., Melnyk, V.M., Popov, V.P., Czosnyka, T., Choinski, J.

Отримати повний текст