Результати пошуку - Filep, M.J.
- Показ 1 - 6 результатів із 6
-
1
-
2
Crystal structure and electrical properties of Ag₆PS₅I single crystal за авторством Studenyak, I.P., Pogodin, A.I., Filep, M.J., Kokhan, O.P., Symkanych, O.I., Timko, M., Kopčanský, P.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2021)Отримати повний текст
Стаття -
3
Structural and impedance studies of copper-enriched (Cu₀.₇₅Ag₀.₂₅)₇SiS₅I-based ceramics за авторством Studenyak, I.P., Pogodin, A.I., Shender, I.A., Bereznyuk, S.M., Filep, M.J., Kokhan, O.P., Kopčanský, P.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2020)Отримати повний текст
Стаття -
4
Influence of cation substitution on the electrical conductivity of microcrystalline ceramics based on (Cu₁₋ₓAgₓ)₇GeSe₅I solid solutions за авторством Studenyak, I.P., Pogodin, A.I., Studenyak, V.I., Malakhovska, T.O., Filep, M.J., Kokhan, O.P., Takats, V., Kökényesi, S.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2021)Отримати повний текст
Стаття -
5
Раманівське дослідження фотоокислення скла As2S3 : Ag під дією видимого світла за авторством Azhniuk, Y.M., Pogodin, A.I., Lopushansky, V.V., Filep, M.J., Kryshenik, V.M., Voynarovych, I.M., Gomonnai, A.V.
Опубліковано 2025
Отримати повний текст
Стаття -
6
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
Semiconductor physics
Raman spectroscopy
X-ray diffraction
oxidation
раманiвська спектроскопiя
Semiconductor Physics
amorphous semiconductors
energy-dispersive X-ray fluorescence spectroscopy
phase-change materials
photochemical reactions
аморфнi напiвпровiдники
дифракцiя рентгенiвських променiв
дифракцiя рентґенiвських променiв
енергодисперсiйна рентгенофлуоресцентна спектроскопiя
окислення
окиснення
фазозмiннi матерiали
фотохiмiчнi реакцiї