Suchergebnisse - Fodchuk, I.M.

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    Determination of surface parameters of solids by methods of X-ray total external reflection von Balovsyak, S.V., Fodchuk, I.M., Lytvyn, P.M.

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    Character of elastic energy absorption in well developed genetic-impurity defect structure in monocrystalline silicon von Gutsulyak, B.I., Oliynych-Lysyuk, A.V., Fodchuk, I.M.

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    Методика калибровки УФ-радиометров энергетической освещенности von Doctorovich, I. V., Butenko, V. K., Hodovaniuk, V. N., Fodchuk, I. M., Yuriev, V. G.

    Veröffentlicht 2008
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    Метрологические характеристики яркомера "Тензор-28" von Fodchuk, I. M., Doktorovych, I. V., Godovaniouk, V. M., Butenko, V. K., Yuriev, V. G.

    Veröffentlicht 2007
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    Evolution of defective structure of the irradiated silicon during natural ageing von Fodchuk, I.M., Gutsulyak, T.G., Himchynsky, O.G., Olijnich-Lysjuk, A.V., Raransky, N.D.

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    Structural changes in multilayer systems containing InxGa₁₋xAs₁₋yNy quantum wells von Fodchuk, I.M., Gevyk, V.B., Gimchinsky, O.G., Kislovskii, E.N., Kroytor, O.P., Molodkin, V.B., Olihovskii, S.I., Pavelescu, E.M., Pessa, M.

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    Dynamical Theory of Triple-Crystal X-ray Diffractometry and Characterization of Microdefects and Strains in Imperfect Single Crystals von Molodkin, V.B., Olikhovskii, S.I., Len, E.G., Kyslovskyy, Ye.M., Reshetnyk, O.V., Vladimirova, T.P., Sheludchenko, B.V., Skakunova, E.S., Lizunov, V.V., Kochelab, E.V., Fodchuk, I.M., Klad’ko, V.P.

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