Bi nanolines characterization by linear optical methods von Buchenko, V.V., Goloborodko, A.A.

Volltext

Speckle pattern formation in spatially limited optical systems von Kotov, M.M., Kurashov, V.N., Goloborodko, A.A.

Volltext

Simulating the diffraction grating reflectivity using effective medium theory von Goloborodko, A.A., Goloborodko, N.S., Oberemok, Ye.A., Savenkov, S.N.

Volltext

Сенсор талбота iз адаптацiєю дифракцiйної ґратки до аберацiй дослiджуваного хвильового фронту von Podanchuk, D. V., Goloborodko, A. A., Kotov, M. M., Petriv, D. A.

Volltext

Determination of surface defects by using the wavefront scanner von Goloborodko, N.S., Grygoruk, V.I., Kurashov, V.N., Podanchuk, D.V., Goloborodko, A.A., Kotov, M.M.

Volltext