Current transport mechanisms in metal – high-k dielectric – silicon structures за авторством Gomeniuk, Y.V.

Отримати повний текст

Effect of oxide-semiconductor interface traps on low-temperature operation of MOSFETs за авторством Lysenko, V.S., Tyagulski, I.P., Gomeniuk, Y.V., Osiyuk, I.N.

Отримати повний текст

Effect of the charge state of traps on the transport current in the SiC/Si heterostructure за авторством Lysenko, V.S., Tyagulski, I.P., Gomeniuk, Y.V., Osiyuk, I.N.

Отримати повний текст

Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001) за авторством Kozyrev, Y. N., Lysenko, V. S., Gomeniuk, Y. V., Kondratenko, O. S., Iliash, S. A., Kondratenko, S. V.

Отримати повний текст

Properties of SiGe/Si heterostructures fabricated by ion implantation technique за авторством Gomeniuk, Y.V., Lysenko, V.S., Osiyuk, I.N., Tyagulski, I.P., Valakh, M.Ya., Yukhimchuk, V.A., Willander, M., Patel, C.J.

Отримати повний текст

Novel hysteresis effect in ultrathin epitaxial Gd₂O₃ high-k dielectric за авторством Nazarov, A.N., Gomeniuk, Y.V., Gomeniuk, Y.Y., Lysenko, V.S., Gottlob, H.D.B., Schmidt, M., Lemme, M.C., Czernohorsky, M., Ostenc, H.J.

Отримати повний текст