Харвестер відкритої науки НАН України

Electron beam application for mechanical stress relaxation and for SI-SIO₂ interface structural regulation

за авторством Matveeva, L.A., Vanger, E.F., Holiney, R.Yu.
Опубліковано в: Вопросы атомной науки и техники (1999)

Investigation of the undersurface damaged layers in silicon wafers

за авторством Holiney, R.Yu., Matveeva, L.A., Venger, E.F.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (1999)

Electroreflectance spectroscopy and scanning electron microscopy study of microrelief silicon wafers with various surface pretreatments

за авторством Gorbach, T.Ya., Holiney, R.Yu., Matiyuk, I.M., Matveeva, L.A., Svechnikov, S.V., Venger, E.F.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (1998)

Influence of neutron irradiation on elctrooptical and structural properties of silicon

за авторством Groza, A.A., Venger, E.F., Varnina, V.I., Holiney, R.Yu., Litovchenko, P.G., Matveeva, L.A., Litovchenko, A.P., Sugakov, V.I., Shmatko, G.G.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2001)