АГРЕСИВНА РАБДОЇДНА ПУХЛИНА ПРАВОЇ ЛЕГЕНІ: КЛІНІЧНИЙ ВИПАДОК за авторством DYADYK, O., SHATROVA, C., ILCHENKO, V., ROSHA, L., ZARITSKA, V., IRKIN, I., BEKETOVA, Yu., SNISAREVSKYI, P.

Отримати повний текст

Electrical properties of semiconductor structures with Si nanoclusters in SiO₂ grown by high temperature annealing technology of SiOx layer, X<2 за авторством Bunak, S.V., Buyanin, A.A., Ilchenko, V.V., Marin, V.V., Melnik, V.P., Khacevich, I.M., Tretyak, O.V., Shkavro, A.G.

Отримати повний текст