Suchergebnisse - Kondrik, A.I.
- Treffer 1 - 11 von 11
-
1
-
2
Influence of radiation-induced defects on CdTe and CdZnTe detectors properties von Kondrik, A.I.
Veröffentlicht in Вопросы атомной науки и техники (2015)Volltext
Artikel -
3
Моделирование свойств CdZnTe и параметров детекторов γ-излучения на его основе von Kondrik, A. I.
Veröffentlicht 2004Volltext
Artikel -
4
Детекторные свойства Cd0,9Zn0,1Te:Al под влиянием гамма-облучения малой дозы von Kondrik, A. I.
Veröffentlicht 2016Volltext
Artikel -
5
Эффективность сбора зарядов в датчиках γ-излучения с различной конфигурацией электродов von Kondrik, A. I.
Veröffentlicht 2012Volltext
Artikel -
6
Исследование свойств полупроводниковых материалов для детекторов ионизирующих излучений von Kondrik, A. I., Kovtun, G. P.
Veröffentlicht 2003Volltext
Artikel -
7
-
8
Температурное поле в кристалле иттрий-алюминиевого граната при двухстадийном выращивании von Kovtun, G. P., Kravchenko, A. I., Kondrik, A. I.
Veröffentlicht 2005Volltext
Artikel -
9
Рафинирование Cd и Zn от примесей внедрения при дистилляции с геттерным фильтром ZrFe von Kondrik, A. I., Solopikhin, D. A., Scherban', A. P.
Veröffentlicht 2013Volltext
Artikel -
10
Температурные поля в растущем кристалле «солнечного кремния» von Kondrik, A. I., Datsenko, O. A., Kovtun, G. P.
Veröffentlicht 2012Volltext
Artikel -
11
Influence of Zr-Fe getter filter on Cd and Zn deep refining of interstitial impurities von Kondrik, A.I., Kovtun, G.P., Shcherban’, A.P., Solopikhin, D.A.
Veröffentlicht in Вопросы атомной науки и техники (2014)Volltext
Artikel
Suchwerkzeuge:
Ähnliche Schlagworte
detectors
детекторы
моделирование
CdZnTe
Czochralski method
computer modeling
computer simulation
ionizing radiation
компьютерное моделирование
метод Чохральского
CdZnTe detectors
CdZnTe-детектори
Physics of radiation damages and effects in solids
band gap width
charge collection
cleaning
crystal size
deep levels
electron drift mobility
gallium arsenide
gamma radiation
gamma-irradiation
getter filter
high-purity metals
interstitial impurities
modeling
rate of directional crystallization
semiconductors
simulation
single crystals