Результати пошуку - Kovalenko, Yu.I.
- Показ 1 - 1 результатів із 1
-
1
Effect of electron-beam treatment of sensor glass substrates for SPR devices on their metrological characteristics за авторством Vashchenko, V.A., Yatsenko, I.V., Kovalenko, Yu.I., Kladko, V.P., Gudymenko, O.Yo., Lytvyn, P.M., Korchovyi, A.A., Mamykin, S.V., Kondratenko, O.S., Maslov, V.P., Dorozinska, H.V., Dorozinsky, G.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2019)Отримати повний текст
Стаття