Microfluctuations of oxygen impurity concentration as a reason of accelerated oxygen diffusion in silicon von Neimash, V.B., Puzenko, O.O., Kraitchinskii, A.M., Krasko, M.M., Putselyk, S., Claeys, C., Simoen, E.

Volltext

Вплив олова на структурнi перетворення тонкоплiвкової субоксидної матрицi кремнiю von Voitovych, V. V., Rudenko, R. M., Yuchymchuk, V. O., Voitovych, M. V., Krasko, M. M., Kolosiuk, A. G., Povarchuk, V. Yu., Khachevich, I. M., Rudenko, M. P.

Volltext