Microfluctuations of oxygen impurity concentration as a reason of accelerated oxygen diffusion in silicon by Neimash, V.B., Puzenko, O.O., Kraitchinskii, A.M., Krasko, M.M., Putselyk, S., Claeys, C., Simoen, E.

Get full text

Вплив олова на структурнi перетворення тонкоплiвкової субоксидної матрицi кремнiю by Voitovych, V. V., Rudenko, R. M., Yuchymchuk, V. O., Voitovych, M. V., Krasko, M. M., Kolosiuk, A. G., Povarchuk, V. Yu., Khachevich, I. M., Rudenko, M. P.

Get full text