Харвестер відкритої науки НАН України

Microfluctuations of oxygen impurity concentration as a reason of accelerated oxygen diffusion in silicon

von Neimash, V.B., Puzenko, O.O., Kraitchinskii, A.M., Krasko, M.M., Putselyk, S., Claeys, C., Simoen, E.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2000)

Вплив олова на структурнi перетворення тонкоплiвкової субоксидної матрицi кремнiю

von Voitovych, V. V., Rudenko, R. M., Yuchymchuk, V. O., Voitovych, M. V., Krasko, M. M., Kolosiuk, A. G., Povarchuk, V. Yu., Khachevich, I. M., Rudenko, M. P.
Veröffentlicht 2019