Microfluctuations of oxygen impurity concentration as a reason of accelerated oxygen diffusion in silicon

за авторством Neimash, V.B., Puzenko, O.O., Kraitchinskii, A.M., Krasko, M.M., Putselyk, S., Claeys, C., Simoen, E.
Опубліковано 2000

Вплив олова на структурнi перетворення тонкоплiвкової субоксидної матрицi кремнiю

за авторством Voitovych, V. V., Rudenko, R. M., Yuchymchuk, V. O., Voitovych, M. V., Krasko, M. M., Kolosiuk, A. G., Povarchuk, V. Yu., Khachevich, I. M., Rudenko, M. P.
Опубліковано 2019