Suchergebnisse - Krit, O.M.
- Treffer 1 - 2 von 2
-
1
-
2
Magnetic-Field-Stimulated Modification of Surface Charge and Defect Content in Silicon for Solar Energy Storage von Makara, V.A., Steblenko, L.P., Korotchenkov, O.A., Nadtochiy, A.B., Kalinichenko, D.V., Kuryliuk, A.M., Kobzar, Yu.L., Krit, O.M.
Veröffentlicht in Металлофизика и новейшие технологии (2014)Volltext
Artikel
Suchwerkzeuge:
Ähnliche Schlagworte
dislocations
energy
etching pits
fractal analysis
high-temperature deformation
impurities
magnetic field
microelectronics technology
microimages
single-crystal silicon
surface texture for biochips
Дефекты кристаллической решётки
високотемпературна деформація
дислокації
домішки
енергетика
магнітне поле
монокристалічний кремній
мікрозображення
текстура поверхні для біочипів
технологія мікроелектроніки
фрактальний аналіз
ямки травлення