Suchergebnisse - Kryuchenko, Yu.
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Characteristics of interface corrugations in short-period GaAs/AlAs superlattices von Daweritz, L., Grahn, H., Hey, R., Jenichen, B., Ploog, K., Korbutyak, D., Krylyuk, S., Kryuchenko, Yu., Litovchenko, V.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (1998)Volltext
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