Suchergebnisse - Kudryavtsev, Y.V.

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    Ellipsometric evidence of CoSi₂ formation in Co/Si multilayer induced by thermal annealing von Kudryavtsev, Y.V., Lee, Y.P., Hyun, Y.H., Pavlova, E.P., Makogon, Y.N.

    Veröffentlicht in Functional Materials (2005)
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