The influence of surface defects on the pinhole formation in silicide thin film von Belousov, I.V., Grib, A.N., Kuznetsov, G.V.

Volltext

Aвтоматизированный спектрометр глубоких уровней для исследования полупроводниковых структур von Boiko, Yu. V., Kuznetsov, G. V., Savitsky, S. М., Tretyak, O. V.

Volltext

Electrophysical properties of meso-porous silicon free standing films modified with palladium von Manilov, A.I., Skryshevsky, V.A., Alekseev, S.A., Kuznetsov, G.V.

Volltext