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Structural and composition irregularities in GaAs:Si/GaAs films grown by liquid-phase epitaxy

von Kladko, V.P., Datsenko, L.I., Maksimenko, Z.V., Lytvyn, O.S., Prokopenko, I.V., Zytkiewicz, Z.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2000)

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$Complex diffractometrical investigation of structural and compositional irregularities in GaAs:Si/GaAs films heavily doped with silicon$

Complex diffractometrical investigation of structural and compositional irregularities in GaAs:Si/GaAs films heavily doped with silicon

von Datsenko, L.I., Klad’ko, V.P., Lytvyn, P.M., Domagala, J., Machulin, V.F., Prokopenko, I.V., Molodkin, V.B., Maksimenko, Z.V.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2001)

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