Результати пошуку - Melnichuk, L. Yu.
- Показ 1 - 11 результатів із 11
-
1
Дослiдження методами ІЧ-спектроскопiї тонких плiвок оксиду цинку, вирощених методом АПО за авторством Venger, E. F., Melnichuk, L. Yu., Melnichuk, A. V., Semikina, T. V.
Опубліковано 2019
Отримати повний текст
Стаття -
2
Effect of strong magnetic field on surface polaritons in ZnO за авторством Venger, E.F., Ievtushenko, A.I., Melnichuk, L.Yu., Melnichuk, O.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2010)Отримати повний текст
Стаття -
3
Investigation of ZnO single crystals subjected to a high uniform magnetic field in the IR spectral range за авторством Venger, E.F., Evtushenko, A.I., Melnichuk, L.Yu., Melnichuk, O.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2008)Отримати повний текст
Стаття -
4
Surface polariton excitation in ZnO films deposited using ALD за авторством Venger, E.F., Melnichuk, L.Yu., Melnichuk, A.V., Semikina, T.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2015)Отримати повний текст
Стаття -
5
-
6
Оптичні та електричні властивості Tb–ZnO/SiO2 в ІЧ-області спектра за авторством Melnichuk, O. V., Melnichuk, L. Yu., Korsunska, N. O., Khomenkova, L. Yu., Venger, Ye. F.
Опубліковано 2019
Отримати повний текст
Стаття -
7
-
8
Кореляція між фотолюмінесцентними та фотоелектричними властивостями ZnO, легованого Mn за авторством Korsunska, N. O., Markevich, I. V., Stara, T. R., Borkovska, L. V., Lavoric, S., Melnichuk, L. Yu., Melnichuk, O. V.
Опубліковано 2018
Отримати повний текст
Стаття -
9
Фонон-поляритонні збудження в структурах MgZnO/6H-SiC за авторством Melnichuk, O. V., Melnichuk, L. Yu., Korsunska, N. O., Khomenkova, L. Yu., Venger, E. F., Venger, I. V.
Опубліковано 2020
Отримати повний текст
Стаття -
10
-
11
Peculiarities of specular infrared reflection spectra of ZnO-based ceramics за авторством Melnichuk, O.V., Korsunska, N.O., Markevich, I.V., Boyko, V.V., Polishchuk, Yu.O., Tsybrii, Z.F., Melnichuk, L.Yu., Venger, Ye.F., Kladko, V.P., Khomenkova, L.Yu.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2021)Отримати повний текст
Стаття
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
-
zinc oxide
оксид цинку
фотопровiднiсть
IR reflection
IR spectroscopy
IЧ-вiдбивання
IЧ-спектроскопiя
MgxZn1−xO
Mn2
Optics
Semiconductor physics
SiO2
ZnO
dielectric substrate
disturbed total internal reflection
electron concentration
magnesium oxide
phonon
photoconductivity
photoluminescence
plasmon
silicon carbide
surface plasmon-phonon polaritons
surface polaritons
thin film
undoped conducting ZnO films
УДК 621.315. 537.37
дiелектрична пiдкладка
дефекти