Оптичні та електричні властивості Tb–ZnO/SiO2 в ІЧ-області спектра

• Дата: 2019
• Автори: Melnichuk, O. V., Melnichuk, L. Yu., Korsunska, N. O., Khomenkova, L. Yu., Venger, Ye. F.
• Формат: Стаття
• Мова: English; Ukrainian
• Опубліковано: Publishing house "Academperiodika" 2019
• Теми: оксид цинку; SiO2; IЧ-вiдбивання; тонка плiвка; дiелектрична пiдкладка; фонон; плазмон; концентрацiя електронiв; -; zinc oxide; IR reflection; thin film; dielectric substrate; phonon; plasmon; electron concentration
• Онлайн доступ: https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2019335
• Назва журналу: Ukrainian Journal of Physics

Optical and electrophysical properties of terbium-doped zinc oxide films have been studied, by using the external reflection IR spectroscopy. The films were deposited onto silicon oxide substrates with the help of the magnetron sputtering method. A theoretical analysis of the reflection spectra of t...