Multilayer film heterostructures. Silicides

за авторством Sidorenko, S.I., Makogon, Yu.N., Pavlova, E.P., Voloshko, S.M.
Опубліковано 2009

Ellipsometric evidence of CoSi₂ formation in Co/Si multilayer induced by thermal annealing

за авторством Kudryavtsev, Y.V., Lee, Y.P., Hyun, Y.H., Pavlova, E.P., Makogon, Y.N.
Опубліковано 2005

Optical and Magnetooptical Spectroscopy of the Nanostructural Multilayered Films: Possible Applications

за авторством Kudryavtsev, Yu.V., Uvarov, V.M., Gontarz, R., Dubowik, J., Lee, Y.P., Rhee, J.Y., Makogon, Yu.N., Pavlova, E.P.
Опубліковано 2005

Formation and thermal stability of NiSi phase in Ni (30 nm)/Pt (2 nm; 6 nm)/Siep. (50 nm)/Si (001) thin film systems

за авторством Makogon, Iu.N., Pavlova, E.P., Sidorenko, S.I., Beddies, G., Beke, D.L., Csik, A., Verbitska, T.I., Fihurna, E.V., Shkarban, R.A.
Опубліковано 2013