Результати пошуку - Pokanevich, A. P.
- Показ 1 - 6 результатів із 6
-
1
Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники за авторством Popov, V. M., Klimenko, A. S., Pokanevich, A. P.
Опубліковано 2008Отримати повний текст
Стаття -
2
-
3
Ртутный микрозонд для исследования локальных электрофизических свойств полупроводниковых структур... за авторством Popov, V. M., Klimenko, A. S., Pokanevich, A. P., Shustov, Yu. M.
Опубліковано 2010Отримати повний текст
Стаття -
4
-
5
Локальные свойства электрически активных дефектов в солнечных батареях на основе кремния за авторством Popov, V. M., Klimenko, A. S., Pokanevich, A. P., Shustov, Y. M., Gavrilyuk, I. I., Panin, A. I.
Опубліковано 2010Отримати повний текст
Стаття -
6
Фотодиод ультрафиолетового диапазона на основе селенида цинка за авторством Perevertailo, V. L., Dobrovol’skiy, Yu. G., Popov, V. M., Pokanevich, A. P., Matskevich, V. M., Rizhikov, V. D., Shabashkevich, B. G., Yur’yev, V. G.
Опубліковано 2010Отримати повний текст
Стаття
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
electrically active defects
электрически активные дефекты
silicon
кремний
MIS structure
Schottky diodes
Schottky photodiode
UV radiation
capacity-voltage characteristic
defects
dosimetry
electroluminescence
heat resistance
integrated circuit
integrated circuits
ion irradiation
liquid crystal
liquid crystal phases
mechanical stresses
mercury probe
nematic and cholesteric liquid crystals
phase state
photosensitivity
quality control
radiometry
scanning electron microscopy
solar panels
visualization
«горячая точка»
МДП-структуры