Харвестер відкритої науки НАН України

Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур

за авторством Makara, V. A., Odarych, V. A., Kepich, T. Yu., Preobragenskaya, T. D., Rudenko, O. V.
Опубліковано 2009

Evidence for photochemical transformations in porous silicon

за авторством Shevchenko, V.B., Makara, V.A., Vakulenko, O.V., Dacenko, O.I., Rudenko, O.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (1999)

Relation between structure inhomogeneities and relaxation processes in excited silicon crystals

за авторством Makara, V.A., Kolomiets, A.M., Kolchenko, Yu.L., Naumenko, S.M., Rudenko, O.V., Steblenko, L.P.
Опубліковано в: Functional Materials (2004)

Comprehensive studies of defect production and strained states in silicon epitaxial layers and device structures based on them

за авторством Boltovets, N.S., Voitsikhovskyi, D.I., Konakova, R.V., Milenin, V.V., Makara, V.A., Rudenko, O.V., Mel’nichenko, M.M.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2001)