Результати пошуку - S. Dukhnin
- Показ 1 - 8 результатів із 8
-
1
Design of optical components for terahertz/sub-terahertz imaging systems за авторством A. V. Shevchik-Shekera, S. E. Dukhnin
Опубліковано 2015Отримати повний текст
Стаття -
2
Design of optical components for terahertz/sub-terahertz imaging systems за авторством Shevchik-Shekera, A.V., Dukhnin, S.E.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2015)Отримати повний текст
Стаття -
3
Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats за авторством Zabudsky, V., Golenkov, O., Rikhalsky, O., Reva, V., Korinets, S., Dukhnin, S., Mytiai, R.
Опубліковано в: Технология и конструирование в электронной аппаратуре (2019)Отримати повний текст
Стаття -
4
Вимірювальна система для тестування електричних параметрів ПЗЗЕМ різного формату за авторством Zabudsky, Viacheslav, Golenkov, Oleksandr, Rikhalsky, Oleg, Reva, Vladimir, Korinets , Sergij, Dukhnin, Sergey
Опубліковано 2019Отримати повний текст
Стаття -
5
Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats за авторством V. Zabudsky, O. Golenkov, O. Rikhalsky, V. Reva, S. Korinets, S. Dukhnin, R. Mytiai
Опубліковано 2019Отримати повний текст
Стаття -
6
Сравнительный анализ технологий изготовления кремниевых схем считывания информации с ИК-фотодиодов... за авторством Reva, V. Р., Korinetz, S. V., Pysarenko, L. A., Dukhnin, S. E., Barsukova, N. A.
Опубліковано 2007Отримати повний текст
Стаття -
7
Detection of IR and sub/THz radiation using MCT thin layer structures: design of the chip, optical elements and antenna pattern за авторством F. F. Sizov, Z. F. Tsybrii, V. V. Zabudsky, M. V. Sakhno, A. V. Shevchik-Shekera, Ye. Dukhnin, A. G. Golenkov, E. Dieguez, S. A. Dvoretsky
Опубліковано 2016Отримати повний текст
Стаття -
8
Detection of IR and sub/THz radiation using MCT thin layer structures: design of the chip, optical elements and antenna pattern за авторством Sizov, F.F., Tsybrii, Z.F., Zabudsky, V.V., Sakhno, M.V., Shevchik-Shekera, A.V., Dukhnin, S.Ye., Golenkov, A.G., Dieguez, E., Dvoretsky, S.A.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2016)Отримати повний текст
Стаття
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
CCD technology
CMOS technology
EMCCD
direct injection transistor
electron multiplying charge-coupled device
measuring system
photodetectors
photoelectric parameters
readout circuit
КМОП-технология
ПЗС-технология
Электронные средства: исследования, разработки
вимірювальна система
прилади з зарядовим зв’язком з електронним множенням
схема считывания
транзистор прямой инжекции
фотодетектори
фотоелектричні параметри