Вплив точкових дефектів на рівноважну концентрацію міжвузлового кисню у кристалічному кремнії von Sarikov, A.

Volltext

Characteristics of gettering process in multicrystalline Si wafers with combined porous Si/Al getters von Sarikov, A., Naseka, V.

Volltext

Preparation and study of the porous Si surfaces obtained by electrochemical method von Lytovchenko, V., Gorbanyuk, T., Kladko, V., Sarikov, A., Safriuk, N., Fedorenko, L., Asmontas, Steponas, Gradauskas, Jonas, Sirmulis, Edmundas, Zalys, Ovidijus

Volltext