Spatial resolution of scanning tunneling microscopy за авторством Rozouvan, T., Poperenko, L., Shaykevich, I., Rozouvan, S.

Отримати повний текст

Optical properties, form of granules and electronic parameters of binary Al/Cr composites за авторством Shaykevich, I.A., Kolesnyk, P.V.

Отримати повний текст

Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique за авторством Rozouvan, T.S., Poperenko, L.V., Shaykevich, I.A.

Отримати повний текст

Ellipsometric investigation of β-Si₃N₄ ceramics with Mo and Al additives за авторством Prokopets', V.M., Shaykevich, I.A., Robur, L.Y.

Отримати повний текст

Angular dependences of ellipsometric parameters of thin Cr and Ti films under surface polariton excitation за авторством Shybiko, Ya.A., Shaykevich, I.A., Melnichenko, L.Yu.

Отримати повний текст

Optical properties of graphene film growing on a thin copper layer за авторством Rozouvan, T.S., Poperenko, L.V., Kravets, V.G., Shaykevich, I.A.

Отримати повний текст

Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs за авторством Kravets, V.G., Prorok, V.V., Poperenko, L.V., Shaykevich, I.A.

Отримати повний текст