Результати пошуку - Smyntyna, V.
- Показ 1 - 11 результатів із 11
-
1
-
2
Influence of initial defects on defect formation process in ion doped silicon за авторством Smyntyna, V.A., Sviridova, O.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2009)Отримати повний текст
Стаття -
3
Temperature dependence of luminescence pecularities in oxygen doped ZnTe films за авторством Malushin, N.V., Skobeeva, V.M., Smyntyna, V.A.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2003)Отримати повний текст
Стаття -
4
Цифровой метод измерения коэффициента направленного отражения поверхности за авторством Ivanchenko, I. A., Santoniy, V. I., Smyntyna, V. A.
Опубліковано 2010Отримати повний текст
Стаття -
5
Роль пластической деформации в получении нанокремния за авторством Smyntyna, V. A., Kulinich, O. A., Yatsunkiy, I. R., Marchuk, I. A.
Опубліковано 2011Отримати повний текст
Стаття -
6
Sensor based on a non-ideal heterojunction to indicate X-ray images за авторством Smyntyna, V.A., Borschak, V.A., Kutalova, M.I., Zatovskaya, N.P., Balaban, A.P.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2004)Отримати повний текст
Стаття -
7
Novel SnO₂ based optical sensor for detectin of low ammonia concentration in water at room temperatures за авторством Pisco, M., Consales, M., Viter, R., Smyntyna, V., Campopiano, S., Giordano, M., Cusano, A., Cutolo, A.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2005)Отримати повний текст
Стаття -
8
-
9
-
10
Influence of internal parameters on the signal value in optical sensor based on the non-ideal heterostructure CdS-Cu₂S за авторством Borschak, V.A., Brytavskyi, Ie.V., Smyntyna, V.A., Lepikh, Ya.I., Balaban, A.P., Zatovskaya, N.P.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2012)Отримати повний текст
Стаття -
11
Structure, spectroscopic and thermal characterization of bis(acetylacetonato) dichlorotin (IV) synthesized in aqueous solution за авторством Ulug, B., Turkdemir, H.M., Ulug, A., Buyukgungor, O., Yucel, M.B., Smyntyna, V.A., Grinevich, V.S., Filevskaya, L.N.
Опубліковано в: Украинский химический журнал (2010)Отримати повний текст
Стаття
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
current transport
defects
digital measurement technique
emitter
image coordinate
metal — p-Si contact
multi-element photodetector
nano-structured silicon
oxide
plastic deformation
polycrystalline silicon
reflection
silicon
Неорганическая и физическая химия
дефекты
излучатель
координата изображения
контакт «металл — p-кремний»
коэффициент отражения
кремний
многоэлементный фотоприемник
наноструктурированный кремний
оксид
пластическая деформация
поликристаллический кремний
токоперенос
цифровой метод измерения