Харвестер відкритої науки НАН України

Radiation/annealing-induced structural changes in GexAs₄₀-xS₆₀ glasses as revealed from high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements

за авторством Kavetskyy, T.S., Tsmots, V.M., Stepanov, A.L.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2012)

Low-temperature positron annihilation study of B⁺-ion implanted PMMA

за авторством Kavetskyy, T.S., Tsmots, V.M., Voloshanska, S.Ya., Šauša, O., Nuzhdin, V.I., Valeev, V.F., Osin, Y.N., Stepanov, A.L.
Опубліковано в: Физика низких температур (2014)