Low-temperature positron annihilation study of B⁺-ion implanted PMMA

• Опубліковано в: : Физика низких температур
• Дата: 2014
• Автори: Kavetskyy, T.S., Tsmots, V.M., Voloshanska, S.Ya., Šauša, O., Nuzhdin, V.I., Valeev, V.F., Osin, Y.N., Stepanov, A.L.
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2014
• Теми: Международная научно-практическая конференция «Нанотехнологии и наноматериалы»
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119606
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Low-temperature positron annihilation study of B⁺-ion implanted PMMA / T.S. Kavetskyy, V.M. Tsmots, S.Ya. Voloshanska, O. Šauša, V.I. Nuzhdin, V.F. Valeev, Y.N. Osin, and A.L. Stepanov // Физика низких температур. — 2014. — Т. 40, № 8. — С. 959-963. — Бібліогр.: 30 назв. — англ.

Temperature dependent positron annihilation lifetime spectroscopy (PALS) measurements in the range of 50–300 K are carried out to study positronium formation in 40 keV B+-ion implanted polymethylmethacrylate (B:PMMA) with two ion doses of 3.13·10¹⁵ and 3.75·10¹⁶ ions/cm². The investigated samples sh...