Suchergebnisse - Tkach, O.O.
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Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data von Borcha, M.D., Solodkyi, M.S., Balovsyak, S.V., Tkach, V.M., Hutsuliak, I.I., Kuzmin, A.R., Tkach, O.O., Kladko, V.P., Gudymenko, O.Yo., Liubchenko, О.І., Swiatek, Z.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2019)Volltext
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