-
1
-
2Recombination characteristics of single-crystalline silicon wafers with a damaged near-surface layerза авторством A. V. Sachenko, V. P. Kostylov, V. H. Lytovchenko, V. H. Popov, B. M. Romaniuk, V. V. Chernenko, V. M. Nasieka, T. V. Slusar, S. I. Kyrylova, F. F. KomarovОтримати повний текст
Опубліковано 2013
Стаття -
3за авторством D. V. Hamov, O. I. Hudymenko, V. P. Kladko, V. H. Lytovchenko, V. P. Melnyk, O. S. Oberemok, V. H. Popov, Yu. O. Polishchuk, B. M. Romaniuk, V. V. Chernenko, V. M. NasiekaОтримати повний текст
Опубліковано 2013
Стаття -
4за авторством I. P. Zharkov, V. V. Safronov, V. O. Khodunov, V. M. Konoval, V. O. Maslov, O. V. Selivanov, A. H. Solonetskyi, V. V. Strelchuk, A. S. Nikolenko, B. I. Tsykaniuk, V. M. NasiekaОтримати повний текст
Опубліковано 2017
Стаття -
5за авторством I. P. Zharkov, V. V. Safronov, V. O. Khodunov, V. M. Konoval, V. O. Maslov, O. V. Selivanov, A. H. Solonetskyi, V. V. Strelchuk, A. S. Nikolenko, B. I. Tsykaniuk, V. M. NasiekaОтримати повний текст
Опубліковано 2018
Стаття