Recombination characteristics of single-crystalline silicon wafers with a damaged near-surface layer

• Дата: 2013
• Автори: A. V. Sachenko, V. P. Kostylov, V. H. Lytovchenko, V. H. Popov, B. M. Romaniuk, V. V. Chernenko, V. M. Nasieka, T. V. Slusar, S. I. Kyrylova, F. F. Komarov
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: 2013
• Назва видання: Ukrainian Journal of Physics
• Онлайн доступ: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000725395
• Назва журналу: Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS