Результати пошуку - V.V. Lizunov, V.V.
- Показ 1 - 1 результатів із 1
-
1
Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon за авторством Molodkin, V.B., Olikhovskii, S.I., Kyslovskyy, Ye.M., Len, E.G., Reshetnyk, O.V., Vladimirova, T.P., V.V. Lizunov, V.V., Lizunova, S.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2010)Отримати повний текст
Стаття