Результати пошуку - Ya. V. Vasylyk
- Показ 1 - 2 результатів із 2
-
1
Integrated diffractometry: achieved progress and new performance capabilities за авторством V. V. Lizunov, I. M. Zabolotnyy, Ya. V. Vasylyk, I. E. Golentus, M. V. Ushakov
Опубліковано 2019Отримати повний текст
Стаття -
2
Dispersion (Phase) Nature of Structural Sensitivity and Informativity of Triple-Crystal Diffractometry of Defects and Strains within the Ion-Implanted Films за авторством O. S. Skakunova, S. Y. Olikhovskyi, V. B. Molodkin, Ye. H. Len, Ye. M. Kyslovskyi, O. V. Reshetnyk, T. P. Vladimirova, Ye. V. Kochelab, V. V. Lizunov, S. V. Lizunova, V. L. Makivska, M. H. Tolmachov, L. M. Skapa, Ya. V. Vasylyk, K. V. Fuzik
Опубліковано 2015Отримати повний текст
Стаття