Dispersion (Phase) Nature of Structural Sensitivity and Informativity of Triple-Crystal Diffractometry of Defects and Strains within the Ion-Implanted Films

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2015
Автори: O. S. Skakunova, S. Y. Olikhovskyi, V. B. Molodkin, Ye. H. Len, Ye. M. Kyslovskyi, O. V. Reshetnyk, T. P. Vladimirova, Ye. V. Kochelab, V. V. Lizunov, S. V. Lizunova, V. L. Makivska, M. H. Tolmachov, L. M. Skapa, Ya. V. Vasylyk, K. V. Fuzik
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: 2015
Назва видання:Metallophysics and advanced technologies
Онлайн доступ:http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000551400
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS