Результати пошуку - Ye. M. Kyslovskyy

  • Показ 1 - 1 результатів із 1
Уточнити результати
  1. 1
    Зображення обкладинки

    Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon за авторством V. B. Molodkin, S. I. Olikhovskii, Ye. M. Kyslovskyy, E. G. Len, O. V. Reshetnyk, T. P. Vladimirova, V. V. Lizunov, S. V. Lizunova

    Опубліковано 2010
    Отримати повний текст
    Стаття

    Додати у Вибране
    Збережено в:

Інструменти для пошуку: