Suchergebnisse - Yuriychuk, I.M.
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Fidelity of noisy multiple-control reversible gates von Deibuk, V.G., Yuriychuk, I.M., Lemberski, I.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2020)Volltext
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Microhardness of Cd₁-ₓMnₓTe solid solutions von Dremlyuzhenko, S.G., Zakharuk, Z.I., Rybak, E.V., Yuriychuk, I.M., Gorbunov, V.V.
Veröffentlicht in Functional Materials (2006)Volltext
Artikel -
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