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TEM and SAED study of island-like CoFe thin films

The impact of component concentration on the crystal structure and microstructure of island-like CoFe thin films was studied by the Selected Area Electron Diffraction (SAED) technique and Transmission Electron Microscopy (TEM)

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2026
Hauptverfasser:	Pazukha, Iryna, Shkurdoda, Yurii, Pylypenko, Oleksandr
Format:	Data
Veröffentlicht:	DataverseUA 2026
Schlagworte:	Physics crystal structure transmission electron microscopy island-like thin film
Online Zugang:	https://doi.org/10.48788/DVUA/B2WHCU
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Назва журналу:	Open Data Repository of the National Academy of Sciences of Ukraine

Institution

Open Data Repository of the National Academy of Sciences of Ukraine

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