Atomic force microscopy images of [Fe/I]n discontinious multilayers (I = SiO2, MgO, HfO2)

The atomic force microscopy was used to analyze the effect of the insulator matrix on the morphology of iron-insulator discontinuous multilayers [Fe/I]n/S (I = SiO2, HfO2, and MgO)

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2026
Автори: Pazukha, Iryna, Shkurdoda, Yurii, Pylypenko, Oleksandr, Vorobiov, Serhii
Формат: Data
Опубліковано: DataverseUA 2026
Теми:
Онлайн доступ:https://doi.org/10.48788/DVUA/FJ9M9G
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Open Data Repository of the National Academy of Sciences of Ukraine

Репозитарії

Open Data Repository of the National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси