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XPS experiment dataset for crystal Tl3PbBr5

The X-ray photoelectron core-level and valence-band spectra for pristine and Ar+-ion irradiated surfaces of a Tl3PbBr5 single crystal grown by the Bridgman–Stockbarger method have been measured. The present X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) results reveal high chemical stability of Tl3PbBr5 sin...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2012
Hauptverfasser:	O.Y. Khyzhun, N. M. Denysyuk
Weitere Verfasser:	Denysyuk Natalia
Format:	Data
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	DataverseUA 2012
Schlagworte:	Chemistry Physics Semiconductors electronic structure crystal growth method X-ray photoelectron spectroscopy
Online Zugang:	https://doi.org/10.48788/DVUA/IVKESW
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Назва журналу:	Open Data Repository of the National Academy of Sciences of Ukraine

Institution

Open Data Repository of the National Academy of Sciences of Ukraine

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