Analysis of Nearfield Method for Optical Data Storage Using Microstrip Probe Under Illumi-nating Mode

Analysis of Nearfield Method for Optical Data Storage Using Microstrip Probe Under Illumi-nating Mode

Process of optical information reading by near-field probe based on optical plasmon microstrip line from ROM-format optical disk is analyzed. Parameters of optical near-field optical reading depending on size of microstrip probe are calculated. Found that a pattern of flow of electromagnetic fields...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2013
Hauptverfasser: Lapchuk, A. S., Morozov, E. M.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainian
Veröffentlicht: Інститут проблем реєстрації інформації НАН України 2013
Schlagworte:
microstrip probe
scanning near-field optical microscope
information reading
interfe-rence effects
Online Zugang:http://drsp.ipri.kiev.ua/article/view/103425
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Data Recording, Storage & Processing

Institution

Data Recording, Storage & Processing
id drspiprikievua-article-103425
record_format ojs
spelling drspiprikievua-article-1034252020-12-28T19:18:11Z Analysis of Nearfield Method for Optical Data Storage Using Microstrip Probe Under Illumi-nating Mode Анализ ближнеполевого метода оптической записи информации микрополосковым зондом в осветительном режиме Аналіз ближньопольового методу оптичного запису інформації мікросмужковим зондом в освітлювальному режимі Lapchuk, A. S. Morozov, E. M. мікрополосковий зонд сканувальний ближньопольовой оптичний мікроскоп зчитування інформації інтерференційні ефекти микрополосковый зонд сканирующий ближнеполевой оптический микроскоп считывание информации интерференционные эффекты microstrip probe scanning near-field optical microscope information reading interfe-rence effects Process of optical information reading by near-field probe based on optical plasmon microstrip line from ROM-format optical disk is analyzed. Parameters of optical near-field optical reading depending on size of microstrip probe are calculated. Found that a pattern of flow of electromagnetic fields at top of probe depends on length of probe and thickness of metal coating. It is shown that interference effects at top of probe significantly affect the parameters of scanning near-field optical microscope. Tabl.: 2. Fig.: 13. Refs: 20 titles. Проанализирован процесс оптического считывания информации ближнеполевым зондом на основе оптической плазмонной микрополосковой линии с оптического диска формата ROM. Рассчитаны параметры ближнеполевого оптического считывания информации в зависимости от размеров микрополоскового зонда. Установлено, что характер распределения потока мощности электромагнитного поля вблизи вершины зонда зависит от длины зонда и толщины металлического покрытия. Показано, что интерференционные эффекты на вершине зонда существенно влияют на параметры сканирующего ближнеполевого оптического микроскопа. Табл.: 2. Ил.: 13. Библиогр.: 20 наим. Проаналізовано процес оптичного зчитування інформації ближньопо льовим зондом на основі оптичної плазмонної мікросмужкової лінії з оптичних дисків формату ЯОМ. Розраховано параметри ближньопольового оптичного зчитування інформації залежно від розмірів мікро- смужкового зонду. Встановлено, що характер розподілу потоку потужності електромагнітного поля біля вершини зонду залежить від довжини зонду і товщини металевого покриття. Показано, що інтерференційні ефекти на вершині зонду суттєво впливають на параметри сканувального ближньопольового оптичного мікроскопа. Інститут проблем реєстрації інформації НАН України 2013-09-05 Article Article application/pdf http://drsp.ipri.kiev.ua/article/view/103425 10.35681/1560-9189.2013.15.3.103425 Data Recording, Storage & Processing; Vol. 15 No. 3 (2013); 3–19 Регистрация, хранение и обработка данных; Том 15 № 3 (2013); 3–19 Реєстрація, зберігання і обробка даних; Том 15 № 3 (2013); 3–19 1560-9189 uk http://drsp.ipri.kiev.ua/article/view/103425/98561 Авторське право (c) 2013 Реєстрація, зберігання і обробка даних
institution Data Recording, Storage & Processing
baseUrl_str
datestamp_date 2020-12-28T19:18:11Z
collection OJS
language Ukrainian
topic microstrip probe
scanning near-field optical microscope
information reading
interfe-rence effects
spellingShingle microstrip probe
scanning near-field optical microscope
information reading
interfe-rence effects
Lapchuk, A. S.
Morozov, E. M.
Analysis of Nearfield Method for Optical Data Storage Using Microstrip Probe Under Illumi-nating Mode
topic_facet мікрополосковий зонд
сканувальний ближньопольовой оптичний мікроскоп
зчитування інформації
інтерференційні ефекти
микрополосковый зонд
сканирующий ближнеполевой оптический микроскоп
считывание информации
интерференционные эффекты
microstrip probe
scanning near-field optical microscope
information reading
interfe-rence effects
format Article
author Lapchuk, A. S.
Morozov, E. M.
author_facet Lapchuk, A. S.
Morozov, E. M.
author_sort Lapchuk, A. S.
title Analysis of Nearfield Method for Optical Data Storage Using Microstrip Probe Under Illumi-nating Mode
title_short Analysis of Nearfield Method for Optical Data Storage Using Microstrip Probe Under Illumi-nating Mode
title_full Analysis of Nearfield Method for Optical Data Storage Using Microstrip Probe Under Illumi-nating Mode
title_fullStr Analysis of Nearfield Method for Optical Data Storage Using Microstrip Probe Under Illumi-nating Mode
title_full_unstemmed Analysis of Nearfield Method for Optical Data Storage Using Microstrip Probe Under Illumi-nating Mode
title_sort analysis of nearfield method for optical data storage using microstrip probe under illumi-nating mode
title_alt Анализ ближнеполевого метода оптической записи информации микрополосковым зондом в осветительном режиме
Аналіз ближньопольового методу оптичного запису інформації мікросмужковим зондом в освітлювальному режимі
description Process of optical information reading by near-field probe based on optical plasmon microstrip line from ROM-format optical disk is analyzed. Parameters of optical near-field optical reading depending on size of microstrip probe are calculated. Found that a pattern of flow of electromagnetic fields at top of probe depends on length of probe and thickness of metal coating. It is shown that interference effects at top of probe significantly affect the parameters of scanning near-field optical microscope. Tabl.: 2. Fig.: 13. Refs: 20 titles.
publisher Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
publishDate 2013
url http://drsp.ipri.kiev.ua/article/view/103425
work_keys_str_mv AT lapchukas analysisofnearfieldmethodforopticaldatastorageusingmicrostripprobeunderilluminatingmode
AT morozovem analysisofnearfieldmethodforopticaldatastorageusingmicrostripprobeunderilluminatingmode
AT lapchukas analizbližnepolevogometodaoptičeskojzapisiinformaciimikropoloskovymzondomvosvetitelʹnomrežime
AT morozovem analizbližnepolevogometodaoptičeskojzapisiinformaciimikropoloskovymzondomvosvetitelʹnomrežime
AT lapchukas analízbližnʹopolʹovogometoduoptičnogozapisuínformacíímíkrosmužkovimzondomvosvítlûvalʹnomurežimí
AT morozovem analízbližnʹopolʹovogometoduoptičnogozapisuínformacíímíkrosmužkovimzondomvosvítlûvalʹnomurežimí
first_indexed 2025-07-17T10:56:00Z
last_indexed 2025-07-17T10:56:00Z
_version_ 1850410995906772992

Ähnliche Einträge