Structural and morphological properties of annealed films of the As2S3-Sb2S3-SbI3 system
The results of investigations of the structure and surface morphology of annealed (As2S3)x(Sb2S3)y(SbI3)z (x = 45, 40, 35 і 30; у =27.5, 30, 32.5 і 35; z = 27.5,30,32.5 і 35) films are presents. Amorphous (As2S3)x(Sb2S3)y(SbI3)z films with a thickness ~ 500 nm were obtained by vacuum evapo...
Gespeichert in:
| Datum: | 2023 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
2023
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | http://drsp.ipri.kiev.ua/article/view/300334 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Data Recording, Storage & Processing |
Institution
Data Recording, Storage & Processing| id |
drspiprikievua-article-300334 |
|---|---|
| record_format |
ojs |
| spelling |
drspiprikievua-article-3003342024-08-24T18:20:40Z Structural and morphological properties of annealed films of the As2S3-Sb2S3-SbI3 system Структурні та морфологічні властивості відпалених плівок системи As2S3-Sb2S3-SbI3 Грещук, О. М. Дуркот, М. О. Л. І. Макар, Л. І. Мудрий, С. І. Рубіш, В. М. Трикур, І. І. Штаблавий, І. І. Юркін, І. М. Юхимчук, В. О. chalcogenide films, Raman spectroscopy, scanning electron microscopy, structure, surface morphology халькогенідні плівки, раманівська спектроскопія, сканую-ча електронна мікроскопія, структура, морфологія поверхні The results of investigations of the structure and surface morphology of annealed (As2S3)x(Sb2S3)y(SbI3)z (x = 45, 40, 35 і 30; у =27.5, 30, 32.5 і 35; z = 27.5,30,32.5 і 35) films are presents. Amorphous (As2S3)x(Sb2S3)y(SbI3)z films with a thickness ~ 500 nm were obtained by vacuum evaporation of glasses corresponding compositions from quasi-closed effusion cells on to unheated glass substrates. The films were annealed at a temperature of 398 K for 1 hour. The structure of the annealed films was studied by the Raman spectroscopy method. For the investigations of the surface morphology of films a field emission scanning electron microscopy (FESEM) analysis was performed. Based on the analysis of the positions and intensities of the main vibrational bands of the Raman spectra and SEM-images of the surfaces of the annealed films of the As2S3-Sb2S3-SbI3 system, it was established that their matrix mainly contains crystalline SbI3 inclusions that have a layered (two-dimensional) structure. Other weak features in the spectra of annealed films are related to the presence of As(Sb)S3, As4S4, As4S3, Sn, and S8 structural fragments in the matrix. Fig.: 4. Refs: 25 titles. Методами раманівської спектроскопії і скануючої електронної мікроскопії досліджено структуру та морфологію поверхні закристалізованих плівок системи As2S3-Sb2S3-SbI3. Встановлено, що структура фази, яка сформувалася в матриці плівок при їхньому відпалі, відповідає струк-турі полікристалічного SbI3. Кристалічні включення мають форму пластин, характерну для цих полікристалів. Інститут проблем реєстрації інформації НАН України 2023-12-19 Article Article application/pdf http://drsp.ipri.kiev.ua/article/view/300334 10.35681/1560-9189.2023.25.2.300334 Data Recording, Storage & Processing; Vol. 25 No. 2 (2023); 3-9 Регистрация, хранение и обработка данных; Том 25 № 2 (2023); 3-9 Реєстрація, зберігання і обробка даних; Том 25 № 2 (2023); 3-9 1560-9189 uk http://drsp.ipri.kiev.ua/article/view/300334/293728 Авторське право (c) 2023 Реєстрація, зберігання і обробка даних |
| institution |
Data Recording, Storage & Processing |
| baseUrl_str |
|
| datestamp_date |
2024-08-24T18:20:40Z |
| collection |
OJS |
| language |
Ukrainian |
| topic |
chalcogenide films Raman spectroscopy scanning electron microscopy structure surface morphology |
| spellingShingle |
chalcogenide films Raman spectroscopy scanning electron microscopy structure surface morphology Грещук, О. М. Дуркот, М. О. Л. І. Макар, Л. І. Мудрий, С. І. Рубіш, В. М. Трикур, І. І. Штаблавий, І. І. Юркін, І. М. Юхимчук, В. О. Structural and morphological properties of annealed films of the As2S3-Sb2S3-SbI3 system |
| topic_facet |
chalcogenide films Raman spectroscopy scanning electron microscopy structure surface morphology халькогенідні плівки раманівська спектроскопія сканую-ча електронна мікроскопія структура морфологія поверхні |
| format |
Article |
| author |
Грещук, О. М. Дуркот, М. О. Л. І. Макар, Л. І. Мудрий, С. І. Рубіш, В. М. Трикур, І. І. Штаблавий, І. І. Юркін, І. М. Юхимчук, В. О. |
| author_facet |
Грещук, О. М. Дуркот, М. О. Л. І. Макар, Л. І. Мудрий, С. І. Рубіш, В. М. Трикур, І. І. Штаблавий, І. І. Юркін, І. М. Юхимчук, В. О. |
| author_sort |
Грещук, О. М. |
| title |
Structural and morphological properties of annealed films of the As2S3-Sb2S3-SbI3 system |
| title_short |
Structural and morphological properties of annealed films of the As2S3-Sb2S3-SbI3 system |
| title_full |
Structural and morphological properties of annealed films of the As2S3-Sb2S3-SbI3 system |
| title_fullStr |
Structural and morphological properties of annealed films of the As2S3-Sb2S3-SbI3 system |
| title_full_unstemmed |
Structural and morphological properties of annealed films of the As2S3-Sb2S3-SbI3 system |
| title_sort |
structural and morphological properties of annealed films of the as2s3-sb2s3-sbi3 system |
| title_alt |
Структурні та морфологічні властивості відпалених плівок системи As2S3-Sb2S3-SbI3 |
| description |
The results of investigations of the structure and surface morphology of annealed (As2S3)x(Sb2S3)y(SbI3)z (x = 45, 40, 35 і 30; у =27.5, 30, 32.5 і 35; z = 27.5,30,32.5 і 35) films are presents. Amorphous (As2S3)x(Sb2S3)y(SbI3)z films with a thickness ~ 500 nm were obtained by vacuum evaporation of glasses corresponding compositions from quasi-closed effusion cells on to unheated glass substrates. The films were annealed at a temperature of 398 K for 1 hour. The structure of the annealed films was studied by the Raman spectroscopy method. For the investigations of the surface morphology of films a field emission scanning electron microscopy (FESEM) analysis was performed.
Based on the analysis of the positions and intensities of the main vibrational bands of the Raman spectra and SEM-images of the surfaces of the annealed films of the As2S3-Sb2S3-SbI3 system, it was established that their matrix mainly contains crystalline SbI3 inclusions that have a layered (two-dimensional) structure. Other weak features in the spectra of annealed films are related to the presence of As(Sb)S3, As4S4, As4S3, Sn, and S8 structural fragments in the matrix. Fig.: 4. Refs: 25 titles. |
| publisher |
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України |
| publishDate |
2023 |
| url |
http://drsp.ipri.kiev.ua/article/view/300334 |
| work_keys_str_mv |
AT greŝukom structuralandmorphologicalpropertiesofannealedfilmsoftheas2s3sb2s3sbi3system AT durkotmo structuralandmorphologicalpropertiesofannealedfilmsoftheas2s3sb2s3sbi3system AT límakarlí structuralandmorphologicalpropertiesofannealedfilmsoftheas2s3sb2s3sbi3system AT mudrijsí structuralandmorphologicalpropertiesofannealedfilmsoftheas2s3sb2s3sbi3system AT rubíšvm structuralandmorphologicalpropertiesofannealedfilmsoftheas2s3sb2s3sbi3system AT trikuríí structuralandmorphologicalpropertiesofannealedfilmsoftheas2s3sb2s3sbi3system AT štablavijíí structuralandmorphologicalpropertiesofannealedfilmsoftheas2s3sb2s3sbi3system AT ûrkíním structuralandmorphologicalpropertiesofannealedfilmsoftheas2s3sb2s3sbi3system AT ûhimčukvo structuralandmorphologicalpropertiesofannealedfilmsoftheas2s3sb2s3sbi3system AT greŝukom strukturnítamorfologíčnívlastivostívídpalenihplívoksistemias2s3sb2s3sbi3 AT durkotmo strukturnítamorfologíčnívlastivostívídpalenihplívoksistemias2s3sb2s3sbi3 AT límakarlí strukturnítamorfologíčnívlastivostívídpalenihplívoksistemias2s3sb2s3sbi3 AT mudrijsí strukturnítamorfologíčnívlastivostívídpalenihplívoksistemias2s3sb2s3sbi3 AT rubíšvm strukturnítamorfologíčnívlastivostívídpalenihplívoksistemias2s3sb2s3sbi3 AT trikuríí strukturnítamorfologíčnívlastivostívídpalenihplívoksistemias2s3sb2s3sbi3 AT štablavijíí strukturnítamorfologíčnívlastivostívídpalenihplívoksistemias2s3sb2s3sbi3 AT ûrkíním strukturnítamorfologíčnívlastivostívídpalenihplívoksistemias2s3sb2s3sbi3 AT ûhimčukvo strukturnítamorfologíčnívlastivostívídpalenihplívoksistemias2s3sb2s3sbi3 |
| first_indexed |
2025-07-17T10:58:50Z |
| last_indexed |
2025-07-17T10:58:50Z |
| _version_ |
1850411626876895232 |